X射線熒光(XRF)方法(X-Strata920)

X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。

X射線熒光分析的優(yōu)點(X-Strata920)
• 少或無需樣品制備
• 無損分析
• 可測元素范圍廣： Ti 22 to U92
• 可分析固體和溶液
• 分析快速：幾秒內得到結果
• 定性、半定量和全定量分析
• 操作容易，只需要簡單培訓
• X射線熒光標準檢測方法、規(guī)格和操作指導通用，可提高產品質量、安全性，便于市場準入和貿易，增強客戶信心。例如：

應用：

電子、電氣原件
有效控制生產過程，提高生產力
• 確保元件可靠性– 同時測量焊料合金成份和 鍍層厚度
• 優(yōu)化質量控制，確保產品生命期例如：
–分析導電性鍍層金和鈀的厚度
–測量電腦硬盤上的NiP層厚度

五金電鍍
電鍍處理的成本小化，產量*大化
• 快速簡單的分析
– 同時進行單層或多層鍍層厚度測量及成份分析
–多可分析4層鍍層
– 鍍液成份分析

金屬合金成份分析和牌號認定
珠寶及其他合金的快速無損分析
•貴金屬合金分析
•黃金純度分析
•材料鑒定