Surtronic DUO粗糙度儀：雙參數(shù)同步測量的革新之作

Surtronic DUO粗糙度儀代表了表面粗糙度測量技術(shù)的一次重要革新。特點(diǎn)是能夠同時測量并顯示Ra和Rz兩個關(guān)鍵粗糙度參數(shù)，改變了傳統(tǒng)設(shè)備需分次測量的工作流程。這種雙參數(shù)同步顯示功能，讓操作人員能夠即時獲取更全面的表面特征信息，大幅提升了檢測效率。

該儀器采用了高精度壓電式傳感器，測量范圍覆蓋0.05-25μm Ra，分辨精度達(dá)到0.001μm，確保了測量結(jié)果的可靠性和重復(fù)性。人性化的設(shè)計體現(xiàn)在其配備的彩色顯示屏上，測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計結(jié)果和曲線圖譜一目了然。內(nèi)置的大容量存儲單元可記錄上千組測量數(shù)據(jù)，并通過USB接口輕松導(dǎo)出，適配現(xiàn)代化質(zhì)量管理的數(shù)據(jù)追溯需求。

在實(shí)際工業(yè)應(yīng)用中，Surtronic DUO展現(xiàn)出的適應(yīng)性。無論是在機(jī)械制造現(xiàn)場的快速抽檢，還是實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的精密分析，它都能提供值得信賴的測量結(jié)果。其堅固的外殼設(shè)計和符合人體工學(xué)的握持感受，保障了在各類工業(yè)環(huán)境下的持久穩(wěn)定表現(xiàn)，成為質(zhì)量工程師和檢測人員的理想伙伴。