Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀

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Couloscope CMS2 STEP庫侖法多鍍層測厚儀

COULOSCOPE CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差
使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度，庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學分析方法。這個方法主要應用于檢查電鍍層的質(zhì)量，現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。
COULOSCOPE® CMS2 STEP
CMS2 STEP 的特征是STEP測試功能（同時測定厚度和電位差）。在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化STEP測試（根據(jù)ASTM B764-94和DIN 50022）。鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出，而電位差則由一個鍍有AgCl的銀電極得到。
COULOSCOPE® CMS2
CMS2可以測量幾乎所有基材上金屬鍍層的厚度，包括多鍍層結(jié)構(gòu); 它的工作原理是根據(jù)陽極溶解的庫侖法（DIN EN ISO 2177）。簡單的操作和菜單化的操作指導使CMS2成為電鍍行業(yè)生產(chǎn)監(jiān)控和質(zhì)量檢驗理想的解決方法。設備為不同的鍍層結(jié)構(gòu)配備了近100個預留的應用程式（例如，鐵上鍍鋅，黃銅上鍍鎳）, 以及各種電解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。這些應用程式適用于多鍍層系統(tǒng)。
COULOSCOPE® CMS2的特征
大尺寸高分辨率的彩色顯示器
簡單的操作和圖示的用戶指導
使用V18支架實現(xiàn)半自動化測量
電解速度和測量面積的簡單選擇（0.1 ----- 50 μm/min）和（0.6 ----- 3.2 mm Ø）
電壓曲線圖形顯示
圖形和統(tǒng)計分析多語言和計量單位可供選擇
COULOSCOPE® CMS2 STEP的特殊功能
同時測量鍍層厚度和電位差
銀參比電極的簡單準備
可調(diào)節(jié)的電解電流
COULOSCOPE® CMS2 STEP庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位系統(tǒng)概述一個測量系統(tǒng)包括COULOSCOPE® CMS2或CMS2 STEP和一個有測量槽的支架（例如：STEP測量槽）。各種測量臺設計適合不同的應用。可選配件大量的可選配件使測量工作更便利，確保了安全的儲存并為固定工件提供輔助。

校準校準時會產(chǎn)生一個修正系數(shù) 。這是由于測量槽密封墊子的制造公差、鍍層密度的變化、合金成分的變化，需要該修正系數(shù)。