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ELEKTROPHYSIK MiniTest740測(cè)厚儀概況
-創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性
-測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
SIDSP技術(shù)-技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過(guò)去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來(lái)的趨勢(shì)
MiniTest740測(cè)厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱(chēng)EPK）研發(fā)的，良好的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界*技術(shù)生產(chǎn)。
MiniTest740測(cè)厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過(guò)32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過(guò)探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
MiniTest740測(cè)厚儀為什么選擇SIDSP？
SIDSP探頭具有*的抗干擾性
任何與測(cè)量相關(guān)的信號(hào)，都由SIDSP在靠近探頭頂部的位置進(jìn)行處理。測(cè)量信號(hào)不會(huì)通過(guò)探頭電纜傳輸時(shí)受到干擾，因?yàn)椴辉儆袦y(cè)量信號(hào)的傳輸。探頭電纜僅僅為探頭供電，并傳輸數(shù)字化的厚度值到顯示裝置。即使您的測(cè)量工件需要特別長(zhǎng)的電纜線也沒(méi)問(wèn)題，加長(zhǎng)的電纜線同樣具有*的抗干擾能力。
SIDSP-測(cè)量信號(hào)高穩(wěn)定性
EPK的SIDSP探頭具有*的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測(cè)量點(diǎn)測(cè)量幾次，每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果，再次證明了SIDSP探頭的性能。
SIDSP探頭對(duì)溫度變化不敏感。
在生產(chǎn)過(guò)程中，對(duì)每個(gè)SIDSP探頭都進(jìn)行了溫度補(bǔ)償?shù)木幋a，這對(duì)于模擬探頭是根本不可能實(shí)現(xiàn)的。這樣溫度改變就不會(huì)影響測(cè)量，與溫度相關(guān)的錯(cuò)誤不會(huì)在SIDSP探頭上發(fā)生
SIDSP探頭適應(yīng)性強(qiáng)
需要快速測(cè)量幾個(gè)點(diǎn)嗎？只要開(kāi)啟快速測(cè)量模式，探頭自動(dòng)轉(zhuǎn)換到特定設(shè)置。想進(jìn)行高精度測(cè)量嗎？沒(méi)問(wèn)題，只要選擇高精度模式，儀器同樣能自動(dòng)轉(zhuǎn)換。不論您要求測(cè)量單個(gè)數(shù)值還是連續(xù)測(cè)量，SIDSP都能完成您的選擇！
優(yōu)點(diǎn)一覽
SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過(guò)程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
ELEKTROPHYSIK MiniTest740測(cè)厚儀概況
| MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類(lèi)型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | zui多10,000個(gè) | zui多10,000個(gè) | zui多100,000個(gè) |
統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)，zui小值，zui大值，平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差，變異系數(shù)，組統(tǒng)計(jì)值（標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置） | ||
校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO，SSPC，瑞典標(biāo)準(zhǔn)，澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||
校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)，零點(diǎn)校準(zhǔn)，2點(diǎn)校準(zhǔn)，3點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||
極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限 | ||
測(cè)量單位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃-60℃ | ||
存放溫度 | -20℃-70℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0（紅外接口） | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g（內(nèi)置）/230g（外置） |
篤摯儀器（上海）有限公司
：張磊
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