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Elektrophysik德國MiniTest 730測(cè)厚儀優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商

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Elektrophysik德國MiniTest 730測(cè)厚儀優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商
篤摯儀器（上海）有限公司代理的MiniTest 730測(cè)厚儀。SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。
SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)生產(chǎn)。

Elektrophysik德國MiniTest 730測(cè)厚儀優(yōu)質(zhì)供應(yīng)商

MiniTest 730測(cè)厚儀的SIDSP工作原理
MiniTest 730測(cè)厚儀的SIDSP跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。

MMiniTest 730測(cè)厚儀的特點(diǎn)：
-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件

MiniTest 730測(cè)厚儀的探頭介紹：
MINITEST730系列：統(tǒng)計(jì)型，外置一體式探頭
MiniTest 730 F 1.5    鐵基涂層，0...1500 μm
MiniTest 730 N 07    非鐵基涂層，0...700 μm
MiniTest 730 FN 1.5    兩用型，0...1500 μm (F)，0...700 μm (N)
MiniTest 730 F2    鐵基涂層，0...2000 μm
MiniTest 730 F5    鐵基涂層，0...5000 μm
MiniTest 730 N 2.5    非鐵基涂層，0...2500 μm
MiniTest 730 FN 5    兩用型，0...5000 μm (F)，0...2500 μm (N)
MiniTest 730 F15    鐵基涂層，0...15 mm

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篤摯儀器（上海）有限公司
：張磊
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