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ElektroPhysik GalvanoTest 2000測厚儀技術(shù)規(guī)格

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ElektroPhysik GalvanoTest 2000測厚儀技術(shù)規(guī)格

 

8 退鍍速度從0.3到40µm /分鐘

測量表面介于0.25和8毫米²

測量范圍50 nm和75µm / 0.002 - 3毫升

電解質(zhì)燒杯(附件)來測量導(dǎo)線

可變的關(guān)閉速度測量合金區(qū)

小部件和電線測量配有廣泛的測量配件

 

技術(shù)規(guī)格:

庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST 可以測量

2000

可以測量70種以上鍍層/基體組合

可以測量平面、曲面上的鍍層

可以測量小零件、導(dǎo)線、線狀零件

預(yù)置10種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金(需提供樣品確定)

 

預(yù)置9種金屬的測量參數(shù):Cr鉻、Ni鎳、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn 錫、Pb鉛、Cd鎘。

用戶可另設(shè)置8種金屬的測量參數(shù)

 

用戶可另設(shè)置1種金屬的測量參數(shù)

庫侖鍍層測厚儀測量機構(gòu):

 

帶循環(huán)泵

 

帶氣泵

庫侖鍍層測厚儀測量面積:

 

密封墊 8 mm2

密封墊 4 mm2

密封片 1 mm2

密封片 0.25 mm2(涂鍍層面積幾乎小得看不見)

 

電解杯 0.25-16 mm2 (可選件)

庫侖鍍層測厚儀測量參數(shù)*化調(diào)整:

 

除鍍速度0.3-40 μm/分鐘可調(diào)

根據(jù)金屬和測量表面可直接調(diào)整系數(shù)

可用厚度標準樣板校準

可調(diào)整終點電壓,以抗干擾,適應(yīng)鍍層/基體之間的合金

GALVANOTEST的數(shù)據(jù)存儲

 

可存儲不同金屬測量參數(shù)的數(shù)目

10

可存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計值

2000

儀器斷電后可保持所有校準值、讀數(shù)、統(tǒng)計值。

庫侖鍍層測厚儀統(tǒng)計計算:

 

顯示6種統(tǒng)計值:均值、標準偏差、變異系數(shù)、zui大、zui小值、讀數(shù)個數(shù)

立即或稍后顯示統(tǒng)計值

立即或稍后打印讀數(shù)和統(tǒng)計值

 

顯示、打印年、月、日、時、分

用于外設(shè)的計算機接口:

 

MINIPRINT 微型打印機接口

RS-232,PC計算機接口

連接x-t計錄儀模擬電壓輸出接口

電解液飽和報警指示

 

測量的不確定性:

 

5%,在8mm2面積下,經(jīng)校準

庫侖鍍層測厚儀電源:

 

110/220V,50/60HZ,10W

測量范圍:

 

zui大測量范圍:0.05-75μm

 

產(chǎn)品特點 
• 可測實際應(yīng)用的所有鍍層 
• 利用庫侖電量分析原理,測量鍍層、多層鍍層 
• 符合標準:DIN EN ISO 2177

德國EPK(Elektrophysik)公司庫侖鍍層測厚儀GALVANOTEST 2000,運用良好的庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍,但電化學反應(yīng)的方向相反,是電解除鍍??梢杂糜跍y量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。 
測量時具有一定的破壞性,需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬,而基體不受影響。庫侖法確保測量結(jié)果準確、可靠,儀器使用簡便。測量操作由儀器的指令自主完成,操作者不需具備太多的專業(yè)知識也可以簡單操作。

GALVANOTEST 2000保證所有測量和統(tǒng)計數(shù)據(jù)安全可靠,可打印數(shù)據(jù)和電壓特征曲線。

 

篤摯儀器(上海)有限公司致力于長度計量儀器,光學儀器、形狀類儀器,材料檢測儀器,涂裝與表面處理檢測儀器的銷售與維護服務(wù)。主要代理德國EPK涂層測厚儀產(chǎn)品,并且我司具有許可進出口經(jīng)營權(quán)。本公司有專業(yè)銷售和技術(shù)人員,為客戶提供方信守合同便,快捷的售前(演示設(shè)備、介紹技術(shù))售中(為客戶選型、滿足客戶要求),售后服務(wù)(設(shè)備維護、保養(yǎng)問題)在客戶需要的時候,我們的專業(yè)人員能夠即來到客戶現(xiàn)場,提供急需的服務(wù)。

 

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