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GALVANOTEST2000庫倫Elektrophysik測(cè)厚儀

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GALVANOTEST2000庫倫Elektrophysik測(cè)厚儀

GalvanoTest 2000庫倫測(cè)厚儀是基本型號(hào),可測(cè)量各種涂層/基底組合,無需任何附件。設(shè)計(jì)為易于使用,這種模式受推薦用于測(cè)量多層應(yīng)用。

幾乎測(cè)量任何電鍍涂層/基底組合

適用于單層和多層涂層

使用庫侖法原理,符合DIN 50 955和ISO 2177的去鍍方法也適用于0.05微米的極薄涂層

庫侖或陽極去鍍技術(shù)用于測(cè)量幾乎所有基材如鋼,有色金屬或絕緣材料基材上的電鍍涂層的厚度。 典型應(yīng)用包括:鋼上鎳,鋼上鋅,銅錫,銀銅或環(huán)氧樹脂。

統(tǒng)計(jì)計(jì)算

顯示6種統(tǒng)計(jì)值:均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、大、小值、讀數(shù)個(gè)數(shù)

立即或稍后顯示統(tǒng)計(jì)值

顯示、打印年、月、日、時(shí)、分

用于外設(shè)的計(jì)算機(jī)接口:

MINIPRINT 微型打印機(jī)接口

RS-232,PC計(jì)算機(jī)接口

連接x-t計(jì)錄儀模擬電壓輸出接口

篤摯代理出售的德國EPK GALVANOTEST2000庫倫測(cè)厚儀主要是針對(duì)一些塑料、薄膜等行業(yè)的一些電鍍件,可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層,比如說,塑料上鍍鋅、鍍銀、鍍銅等,GALVANOTEST 2000可以測(cè)試單層或多層鍍層的厚度。利用庫侖電量分析原理,測(cè)量鍍層、多層鍍層,符合標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177,儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值、讀數(shù)、統(tǒng)計(jì)值。

 GALVANOTEST2000庫倫Elektrophysik測(cè)厚儀

GalvanoTest 2000,應(yīng)用庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍,但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反,是電解除鍍。可以用于測(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度。基體包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。
測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬,而基體不受影響。庫侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確、可靠,儀器使用簡便。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成,操作者不需要專業(yè)知識(shí)。

技術(shù)數(shù)據(jù):

測(cè)量范圍:大測(cè)量范圍:0.05-75μm

測(cè)量范圍:0.05~75μm
可以測(cè)量70種以上的鍍層/基體組合
可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層
可以測(cè)量小零件、導(dǎo)線、線狀零件
預(yù)置10種金屬的測(cè)量參數(shù):Cr鉻、Ni鑷、Cu銅、黃銅、Zn鋅、Ag銀、Sn錫、Pb鉛、Cd鎘、Au金
用戶可另設(shè)8種金屬的測(cè)量參數(shù)
測(cè)量面積:0.25/4/8mm2
存儲(chǔ):2000個(gè)讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值
統(tǒng)計(jì)功能:平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、變異系數(shù)、大、小、讀數(shù)個(gè)數(shù)
接口:RS232接口可連接計(jì)算機(jī)和打印機(jī)

 

篤摯儀器(上海)有限公司擁有源自美國、英國、德國等多地區(qū)的合作伙伴,憑借種類齊全的產(chǎn)品資源和服務(wù),涵蓋光學(xué)儀器、測(cè)量儀器、無損檢測(cè)、實(shí)驗(yàn)儀器、分析儀器、量具量儀等各類檢測(cè)設(shè)備,努力為客戶解決日新月異的測(cè)量分析技術(shù)挑戰(zhàn),共同提供定制化精密測(cè)量和性能分析系統(tǒng)解決方案,有效推動(dòng)企業(yè)實(shí)現(xiàn)既定目標(biāo)。

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