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QNix 4200金屬涂層測(cè)厚儀

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QNix 4200金屬涂層測(cè)厚儀

 

QNix4200 涂層測(cè)厚儀這兩種型號(hào)分為一體式和分體式,只需調(diào)零無需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn) 單,測(cè)值迅速。 QNix®4200(含 QNix®4200、QNix®4200/5、QNix®4200P、QNix®4200P5)可測(cè)量磁性金屬表面非磁性 涂鍍層厚度。(Fe) QNix®4500(含 QNix®4500、QNix®4500/5、QNix®4500P、QNix®4500P5 可測(cè)量磁性金屬表面非磁性 涂鍍層厚度及非磁性金屬表面非導(dǎo)電涂層厚度。(Fe/NFe 雙用)

特點(diǎn):
零位穩(wěn)定: 所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位, 可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。 儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量的前提。 一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后, 可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移, 確保準(zhǔn)確測(cè)量。無需校準(zhǔn):多數(shù)涂層測(cè)厚儀除了校零外, 還需要用標(biāo)準(zhǔn)片一進(jìn)行調(diào)校。 測(cè)量某一范圍厚度, 要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。 主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。 不僅操作煩瑣, 而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表而粗糙失效, 增大系統(tǒng)誤差。 尼克斯涂層測(cè)厚儀可以滿足全量程范圍內(nèi)數(shù)值準(zhǔn)確溫度補(bǔ)償: 涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。 同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。 所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù), 以保證不同溫度下的測(cè)量精度。紅寶.石探頭: 探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。 普通金屬接觸探頭, 其表而磨損后會(huì)帶來很大的誤差。*的直流采樣技術(shù):使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有*的*和提高。

 

QNix 4200金屬涂層測(cè)厚儀

技術(shù)參數(shù)

磁性基體(Fe模式)

可以

非磁性基體(NFe模式)

不可以

測(cè)量范圍

Fe:0-3000um

顯示精度

0.1um

精度

0-50um:≤±1um

50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)

1000-3000um≤±3%讀數(shù)

zui小接觸面

10×10mm/QNix4200

zui小曲率半徑

凸面:3mm;凹面:25mm

zui小基體厚度

Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

溫度補(bǔ)償范圍

0-60℃

顯示

LCD液晶(帶背光)

探頭

紅寶石固定式

電源

2×1.5V干電池

尺寸

100×60×27mm

重量

110g

 

 

使用說明

儀器使用:

1.開機(jī): 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí),儀器將自動(dòng)開機(jī)。(使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí),禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動(dòng)探頭,以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起,離開被測(cè)物 10cm 以上,再進(jìn)行下次測(cè)量。)
2.設(shè)置: 開機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單,QNix4500 為 4 個(gè)選項(xiàng),QNix4200 為 2 個(gè)選 項(xiàng),
“Fe”為磁性金屬基體模式, “NFe”為非磁性金屬基體模式(僅 QNix4500), “Fe/NFe”為自動(dòng)識(shí)別基體模式(僅 QNix4500), “取平均值”為儀器自動(dòng)顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測(cè)量)。按紅鍵進(jìn)入菜單后,繼續(xù)按紅鍵進(jìn)行選擇,將光標(biāo)在選項(xiàng)上停留 2 秒后,進(jìn) 入所選項(xiàng)目。如在“Fe”選項(xiàng)上停留 2 秒后,儀器顯示Fe 測(cè)量模式,這時(shí)儀器進(jìn)入 Fe(磁性金屬基體)模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe(非 磁性金屬基體)、Fe/NFe(磁性非磁性基體自動(dòng)識(shí)別)模式下工作。
進(jìn)入“取平均值”選項(xiàng)后,儀器顯示取平均值,在“開”選項(xiàng)上停留 2 秒后,取平均值開啟,測(cè)量時(shí)顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測(cè)量),測(cè)量時(shí)在屏幕右上角出現(xiàn)“— X ”符號(hào)時(shí)表示取平均值開啟,如不需要請(qǐng)關(guān)閉(在取平均值選項(xiàng)里選擇“關(guān)”)即可。

 

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