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FISCHER X射線測厚儀XDL230

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菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心特點

靈活測量能力

DCM 距離補償技術，可在不同距離下簡化測量

電動 Z 軸配合手動 XY 工作臺，輕松定位復雜樣品測量點

視頻顯微鏡帶自動聚焦和十字線，精確指示測量位置

高精度與穩(wěn)定性

基本參數法，無需標準片即可獲得可靠結果

比例接收器提供高計數率，確保亞微米級測量精度

長期穩(wěn)定性好，減少校準頻率，降低使用成本

操作便捷性

WinFTM專業(yè)軟件，直觀界面，支持數據計算、報表生成與導出

測量門開啟時工作臺自動移動至加載位置，激光點指示測量點

側面 C 形槽設計，可測量比測量箱更大的扁平樣品 (如大型 PCB)


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