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涂鍍層測(cè)厚儀minitest740探頭內(nèi)置外置可換，讓用戶使用更加靈活，涂鍍層測(cè)厚儀minitest740更換不同探頭既可測(cè)小工件，薄涂層，也可測(cè)厚涂層，zui大測(cè)量到15mm
MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測(cè)厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測(cè)厚儀MiniTest720/MiniTest730/MiniTest740涂層測(cè)厚儀MiniTest722/MiniTest735/MiniTest745涂層測(cè)厚儀
涂鍍層測(cè)厚儀minitest740-優(yōu)點(diǎn)：
-SIDSP使測(cè)量不受干擾，測(cè)值更加準(zhǔn)確
-FN探頭自動(dòng)識(shí)別基體，使測(cè)量更迅速，避免操作錯(cuò)誤
-溫度補(bǔ)償功能避免溫度變化引起的錯(cuò)誤
-生產(chǎn)過程中50點(diǎn)校準(zhǔn)使儀器獲得高準(zhǔn)確度的特征曲線
-大存儲(chǔ)量，能存儲(chǔ)10或100組多達(dá)100,000個(gè)讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值能單獨(dú)調(diào)出
-超大，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作，25種語(yǔ)言可選
-帶IrDA接口，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機(jī)和PC
-可下載更新軟件
SIDSP技術(shù)-*新技術(shù)，智能數(shù)字化的涂層測(cè)厚探頭
模擬信號(hào)處理時(shí)代已成過去，數(shù)字信號(hào)處理將成為未來的趨勢(shì)
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀采用的SIDSP是什么？
SIDSP是由ElektrPhysik（簡(jiǎn)稱EPK）研發(fā)的，世界**的涂層測(cè)厚探頭技術(shù)。EPK此項(xiàng)技術(shù)為涂層測(cè)厚領(lǐng)域的**奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。SIDSP即探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理，這項(xiàng)技術(shù)使探頭在測(cè)量時(shí)，同時(shí)在探頭內(nèi)部將信號(hào)*處理為數(shù)字形式。SIDSP探頭*依據(jù)世界**技術(shù)生產(chǎn)。
MiniTest 720/730/740涂層測(cè)厚儀的SIDSP工作原理？
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同，SIDSP在探頭頂部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號(hào)，回傳的信號(hào)經(jīng)過32位數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理，帶給您準(zhǔn)確的涂層厚度值。此項(xiàng)的數(shù)字處理技術(shù)，同時(shí)應(yīng)用在現(xiàn)代通訊技術(shù)（手機(jī)網(wǎng)絡(luò)）方面，如數(shù)字濾波器，基帶轉(zhuǎn)換，平均值，隨機(jī)分析，等等。此項(xiàng)技術(shù)能獲得與模擬信號(hào)處理*的信號(hào)質(zhì)量和準(zhǔn)確度。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置。
SIDSP探頭與普通模擬探頭相比，具有決定性的優(yōu)勢(shì)，為涂層測(cè)厚設(shè)定了一個(gè)新的標(biāo)準(zhǔn)。
主機(jī)技術(shù)參數(shù)
主機(jī)型號(hào) | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 |
數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 |
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | *多10,000個(gè) | *多10,000個(gè) | *多100,000個(gè) |
統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù)、*小值、*大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | ||
校準(zhǔn)程序符合際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||
校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)、三點(diǎn)校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||
限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過限 | ||
測(cè)量單位 | μm，mm，cm；mils，inch，thou | ||
操作溫度 | -10℃~60℃ | ||
存放溫度 | -20℃~70℃ | ||
數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||
電源 | 2節(jié)AA電池 | ||
標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
探頭
探頭特性 | F1.5，N07，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測(cè)量范圍 | 0~1.5mm | 0~0.7mm | 0~2mm | 0~5mm | 0~2.5mm | 0~15mm |
使用范圍 | 小工件，薄涂層 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | |||||
較準(zhǔn)確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
*小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
*小曲率半徑 | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
*小曲率半徑 | 30mm | 30mm | 30mm | |||
*小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
*小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
單值模式下*大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù)
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