• ElektroPhysik測厚儀PhysiTest 15201
    ElektroPhysik測厚儀PhysiTest 15201

    ElektroPhysik測厚儀PhysiTest 15201:濕膜輪測厚儀Wet Film Thicknes。PhysiTest濕膜輪測厚儀可以用于測量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。PhysiTest濕膜輪測厚儀由兩個外同心輪和一個內(nèi)偏心輪組成。當濕膜輪在涂層表面滾動時,內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時所對應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。

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  • EPK QuintSonic 5超聲涂層測厚儀熱銷
    EPK QuintSonic 5超聲涂層測厚儀熱銷

    EPK QuintSonic 5超聲涂層測厚儀熱銷:探頭置于涂層表面,探頭將發(fā)出的超聲波脈沖穿過涂層到達基體,這些超聲波脈沖從各層界面依次反射,又被探頭的超聲傳感器所接受,微處理度和涂層總厚度。一次測量耗時少于2秒,數(shù)據(jù)被分組存儲,接上MININPRINT打印機,還可以打印輸出所有有序存儲的讀數(shù)和統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

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  • 德國ElektroPhysik FH7400熱銷現(xiàn)貨供應(yīng)
    德國ElektroPhysik FH7400熱銷現(xiàn)貨供應(yīng)

    德國ElektroPhysik FH7400熱銷現(xiàn)貨供應(yīng),可準確測量厚達10mm的材料。便攜而小巧的外形使其可在生產(chǎn)現(xiàn)場和實驗室進行操作。MiniTest 7400 FH / MiniTest 7200 FH可在各種非磁性材料上進行簡單,無損,高精度的厚度測量,無論它們的大小、形狀和材質(zhì)如何。它還是尖角,小半徑和復雜形狀工件理想的測量工具。

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  • PhysiTest測厚儀ElektroPhysik原裝供應(yīng)
    PhysiTest測厚儀ElektroPhysik原裝供應(yīng)

    PhysiTest測厚儀ElektroPhysik原裝供應(yīng):PhysiTest濕膜輪測厚儀可以用于測量平坦或彎曲表面的濕膜厚度。PhysiTest濕膜輪測厚儀由兩個外同心輪和一個內(nèi)偏心輪組成。當濕膜輪在涂層表面滾動時,內(nèi)輪接觸并粘起濕膜時所對應(yīng)的刻度即為濕膜厚度。

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  • MIKROTEST S10德國EPK機械式測厚儀
    MIKROTEST S10德國EPK機械式測厚儀

    MIKROTEST S10德國EPK機械式測厚儀、MIKROTEST根據(jù)量程大小可分為G6,F(xiàn)6,G7,F(xiàn)7,S3,S5,S10和S20。實用、優(yōu)惠的統(tǒng)計涂層測厚儀。適用于鋼鐵上的所有非磁性涂層鍍層,如油漆、塑料、搪瓷、鉻、鋅等。用于非鐵金屬(鋁、鋅、銅等)上的所有絕緣涂層,如陽極氧化膜、油漆、涂料等。

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  • ElektroPhysik高科技產(chǎn)品GALVANOTEST測厚儀
    ElektroPhysik高科技產(chǎn)品GALVANOTEST測厚儀

    ElektroPhysik高科技產(chǎn)品GALVANOTEST測厚儀,是一款應(yīng)用庫侖電量分析原理。其過程類似于電鍍,但電化學反應(yīng)的方向相反,是電解除鍍??梢杂糜跍y量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?;w包括鋼鐵、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷、鐵上鋅、銅上銀、環(huán)氧樹脂上的銅等。

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  • 熱銷供應(yīng)EPK MiniTest 600測厚儀600BFN
    熱銷供應(yīng)EPK MiniTest 600測厚儀600BFN

    熱銷供應(yīng)EPK MiniTest 600測厚儀600BFN:N型測頭是根據(jù)電渦流原理設(shè)計的,主要測量非鐵磁性金屬和奧氏體不銹鋼上的涂層。例如:鋁、銅、鑄鋅件上的涂料、陽極氧化膜、陶瓷等。FN型測頭是同時利用磁感應(yīng)原理和電渦流原理設(shè)計的,一個測頭就可完成F型和N型兩種測頭所能完成的測量。

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  • ElektroPhysik測厚儀QuintSonic 7技術(shù)特點
    ElektroPhysik測厚儀QuintSonic 7技術(shù)特點

    ElektroPhysik測厚儀QuintSonic 7技術(shù)特點:采用創(chuàng)新技術(shù)的QuintSonic 7是*個可以準確測量GRP(熱固性塑料或玻璃鋼)和CRP(低溫鋼)工件上涂層厚度的測厚儀。儀器新增一個功能是可以將標準樣件的聲速內(nèi)置于儀器中。一旦某種介質(zhì)的聲速確定,聲速可以存儲在數(shù)據(jù)庫供調(diào)取使用。這樣可以減少測量時的設(shè)置時間。

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